Tescan apresentou a nova geração do Tescan CLARA™um microscópio eletrônico de varredura de altíssima resolução para caracterização de materiais em nanoescala. O sistema combina imagens SEM de alta resolução e baixo consumo de energia, detecção multicontraste, suporte para materiais desafiadores e navegação mais rápida desde a configuração até os resultados para laboratórios de pesquisa, instalações de microscopia compartilhadas e ambientes industriais de P&D.
A nova CLARA™ destina-se ao trabalho em ciência dos materiais, nanotecnologiafabricação avançada, P&D industrial e instalações de microscopia compartilhadas. Ele suporta imagens e análises em vários tipos de amostras, incluindo polímeros, materiais magnéticos, metais, cerâmicas, revestimentos, partículas e amostras de análise de falhas.
“Na pesquisa de materiais, informações importantes são frequentemente encontradas em estruturas superficiais sutis, camadas finas, alterações locais na composição ou características que são difíceis de visualizar sem alterar a amostra.”, disse Sirine Assaf, CRO da Tescan. “CLARA™ foi projetado para apoiar esse trabalho, combinando imagens de baixo consumo de energia, detecção avançada e controle prático do fluxo de trabalho em uma plataforma.”
Imagens mais nítidas em nanoescala com menos preparação de amostras
Muitas características importantes dos materiais só podem ser compreendidas em nanoescala. CLARA™ permite imagens de altíssima resolução em baixos níveis de energia, o que é especialmente valioso ao trabalhar com amostras delicadas, não condutoras ou sensíveis ao feixe.
A imagem de baixa energia ajuda os pesquisadores a observar estruturas superficiais finas, ao mesmo tempo que reduz a necessidade de etapas adicionais de preparação, como revestimento condutor. Isso permite que as equipes estudem os materiais mais próximos de seu estado pure e reduzam o risco de artefatos de preparação.
Para pesquisadores que estudam nanopartículascamadas superficiais finas, revestimentos, contaminação ou pequenos defeitos, esta combinação de resolução e proteção de amostra suporta a interpretação de características estruturais e materiais finas.
Mais insights de cada medição
CLARA™ foi projetado para coletar tipos complementares de informações da mesma área de uma amostra, ajudando os pesquisadores a distinguir detalhes de superfície de diferenças de materiais.
Essa abordagem multicontraste pode ajudar a identificar partículas próximas à superfície, camadas de contaminação, alterações de composição ou variações de materials que podem ser difíceis de separar apenas do contraste topográfico.
Flexibilidade Analítica para Laboratórios Industriais e de Pesquisa
Os laboratórios industriais e de pesquisa modernos raramente trabalham com um tipo de amostra simples. Um dia pode envolver um steel condutor, no outro um polímero, materials magnético, estrutura porosa, revestimento, superfície de fratura ou componente protótipo sensível.
CLARA™ suporta imagens SEM de alta resolução em materiais desafiadores e oferece capacidade de baixo vácuo para amostras que carregam, liberam gases ou exigem condições de imagem mais suaves. Os pesquisadores podem adaptar as condições de imagem à amostra em vez de forçar a amostra a um fluxo de trabalho fixo.
O sistema também suporta uma variedade de técnicas analíticas, permitindo que os laboratórios conectem imagens de alta resolução com análises mais profundas de materiais. CLARA™ é adequado para aplicações em pesquisa de materiais avançados, eletrônica, materiais energéticos, metalurgia, polímeros, revestimentos, nanotecnologia, análise de falhas e controle de qualidade.
Com CLARA™a Tescan continua a desenvolver soluções de microscopia eletrônica que combinam desempenho, usabilidade e flexibilidade analítica para caracterização de rotina e avançada em nanoescala.